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| X—射线荧光分析对样品有什么要求? | |||||
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作者：李申盛 陶瓷词典来源：本站原创 点击数： 更新时间：2005-9-27 |
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波长色散X—射线荧光分析仪可以直接用碎片进行测定，但要求样品具有较好的平整度，最好是器底，如果采用弧度较大的器壁部分，所得结果的误差较大。其尺寸不能太大，也不宜太小，一般以直径小于5厘米的碎片为好。如果要分析胎，那就得把釉、化妆土及反应层一起磨去，露出直径约2厘米左右的胎。能量色散X—射线荧光分析仪可以直接用完整器测定釉的成分，利用底足露胎部分测定胎的成分。 |
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